本款高分辨辉光放电质谱仪(HR-GDMS),是专为固体材料高精度元素分析打造的高端检测设备,基于辉光放电电离技术与磁电双聚焦分离原理,可定量分析Li 到 U 范围内的 70余种元素,涵盖微量元素与超微量元素检测。仪器适配导体、半导体、绝缘体、粉末、涂层等多类固体材料,具备分辨率高、背景干扰低、线性动态范围广等核心优势,广泛应用于半导体、高纯材料、航空航天、核工业、新材料研发等高端制造与科研领域,是固体材料成分分析与质量管控的理想优选设备。
核心特点
多材料全适配:兼容导体、半导体、绝缘体、粉末、涂层等各类固体材料,无需复杂样品前处理,应用场景覆盖多行业。
低干扰高洁净:液氮冷却离子源 + 气体净化装置 + 真空内部烘烤,大幅降低 C、N、O 等气体背景干扰,保障低熔点金属精准分析。
三级分辨率切换:400/4000/10000 三级分辨率可快速切换,满足常规检测、高精度杂质分析等不同精度需求。
超宽动态范围:线性动态范围达 10¹² 个数量级,可同时覆盖微量元素、主量元素检测,无需多次调整检测参数。
高稳定磁场控制:闭环控制消除磁滞效应,搭配 ±0.001℃ 恒温冷却,保障质量数精准设置,长期运行稳定性突出。
高精度数据采集:24 位同步数采系统,精度达 ppm 级别,结合能量阻滞透镜(RPQ)降噪设计,数据可靠度高。
高效离子传输:优化离子输运透镜实现相空间匹配,提升离子传输效率与检测灵敏度,缩短分析周期。
便捷维护操作:钽材质离子源易拆卸清洁,样品架支持快速更换,无需专业复杂操作,提升作业效率。
性能参数表
| 产品类型 | 高分辨辉光放电质谱仪(HR-GDMS) |
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| 可分析元素 | 70 余种(涵盖 Li 到 U、基质顶部级杂质等) |
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| 适配材料类型 | 导体、半导体、绝缘体、粉末、涂层等固体材料 |
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| 离子源类型 | 慢流辉光放电离子源 |
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| 离子源冷却方式 | 液氮冷却系统 |
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| 质量分析仪结构 | 尼尔・约翰逊结构磁电双聚焦质谱分析仪 |
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| 质量色散 | 570 mm |
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| 分辨率(10% 峰值谷定义) | 400/4000/10000(三级可快速切换) |
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| 磁场控制方式 | 磁场测量闭环控制 |
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| 磁场稳定性保障 | ±0.001℃ 循环水冷却 + 霍尔元件恒温控制 |
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| 检测系统 | 法拉第杯法、电子乘法器模拟法、计数法(数字检测系统) |
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| 线性动态范围 | 10¹² 个数量级 |
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| 数据采集系统 | 24 位同步测量,数采精度达 ppm 级别 |
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| 丰度灵敏度优化 | 配置能量阻滞透镜(RPQ) |
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| 真空保障 | 气体净化装置 + 真空内部烘烤 + 差动泵送模块 |
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| 样品架类型 | 针形样架、片状样架 |
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| 离子源核心材质 | 钽材料(电池结构) |
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| 前置放大器高阻 | 10⁹Ω、10¹⁰Ω、10¹¹Ω 等(计算机快速切换) |
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应用领域
半导体领域:检测半导体衬底、溅射靶材、芯片封装材料中的微量杂质,保障芯片生产工艺稳定性与产品质量。
高纯材料领域:分析高纯金属、稀土材料、高纯陶瓷的杂质成分与含量,满足高端材料纯度等级要求。
航空航天领域:对高温合金、钛合金等关键结构材料进行元素分析,保障航空航天设备的力学性能与运行安全。
核工业领域:检测核燃料、核级石墨、核防护材料的元素组成与杂质含量,支撑核工业安全运行。
新材料领域:为高性能涂层、晶体材料、陶瓷材料等的研发提供成分分析数据,助力材料性能优化与质量管控。
为何选择高分辨辉光放电质谱仪(HR-GDMS)?
HR-GDMS 是固体材料微量元素与超微量元素检测的标杆设备,核心优势在于多材料适配性与高精度检测的完美兼顾。仪器无需复杂样品前处理即可适配各类固体材料,解决了传统检测设备材料适配局限的痛点;三级分辨率切换与 10¹² 超宽动态范围,可满足从常规分析到高精度杂质检测的多元需求;低干扰设计与高稳定磁场控制,保障了数据的精准性与一致性。无论是高端制造的质量管控,还是前沿科研的材料分析,HR-GDMS 都能提供高效、可靠的检测解决方案,成为高端材料领域不可或缺的核心分析设备。
常见问题解答
核心用途是什么?定量分析固体材料中 70 余种元素(含微量元素、超微量元素),适配多类固体材料的成分检测与杂质分析,支撑质量管控与科研研发。
可适配哪些材料?是否需要复杂前处理?适配导体、半导体、绝缘体、粉末、涂层等各类固体材料,无需复杂样品前处理,直接取样检测即可。
分辨率如何切换?满足哪些检测需求?支持 400/4000/10000 三级分辨率快速切换,400 适用于常规元素分析,4000 适配微量杂质检测,10000 满足超微量元素高精度分析。
如何降低气体背景干扰?配备气体净化装置去除载气杂质,结合真空内部烘烤工艺与液氮冷却离子源,大幅减少 C、N、O 等气体背景干扰。
能否分析低熔点金属?可以,液氮冷却离子源设计可有效避免低熔点金属(如镓)在检测过程中熔化流失,实现精准分析。
检测动态范围与数据精度如何?线性动态范围达 10¹² 个数量级,可同时检测微量元素与主量元素;24 位同步数采,精度达 ppm 级别,数据可靠。
维护操作是否便捷?钽材质离子源易拆卸清洁,样品架支持快速更换,前置放大器高阻可通过计算机快速切换,维护操作简单高效。
磁场稳定性如何保障?采用磁场测量闭环控制消除磁滞效应,搭配 ±0.001℃ 循环水冷却与霍尔元件恒温控制,确保磁场长期稳定运行。
产品总结
高分辨辉光放电质谱仪(HR-GDMS)以多材料适配、高分辨率、低干扰、宽动态范围为核心竞争力,是固体材料元素分析领域的高端标杆设备。仪器融合了慢流辉光放电离子源、磁电双聚焦质量分析器、高精度数采系统等多项核心技术,既解决了传统检测设备材料适配单一、干扰大的痛点,又实现了全范围、高精度的元素检测。从半导体芯片的杂质管控到高纯材料的纯度分析,从航空航天材料的性能保障到新材料的研发支撑,HR-GDMS 都能提供精准、高效、可靠的数据支持,为高端制造与科研领域的高质量发展提供坚实的技术保障,是固体材料分析检测的核心优选设备。